• 
• 
• 
• 
• 
• 
• 
• 
• 

HOME＞製品別情報

製品別情報

• 統合レーザー計測ソフトウェア

  • Koncerto
  • koncertoLIF

• PIV（粒子画像流速計）

  • 2D-PIVシステム
  • 3D-PIVシステム
  • 時系列PIVシステム
  • マイクロPIV

• LIF（レーザー誘起蛍光法　燃焼計測）

• LII（レーザー誘起加熱法）

• PDI（位相ドップラー粒子分析計）

• マイクロフルイディクス・マイクロイメージング

  • マイクロPIV
  • マイクロLIF
  • マイクロデバイス駆動・制御用電源
  • マイクロデバイス用顕微鏡

• 電子顕微鏡周辺機器・ナノイメージング

  • TEM用CCDカメラ
  • 電子顕微鏡用画像処理ソフト

• 多孔質素材評価装置

  • ポロメーター／ポロシメーター
  • 拡散評価装置／透過評価装置

• タイミングコントローラー

• 化合物材料・パワーデバイス

ページの先頭へ

HOMEへ

HOME|製品別情報|用途別情報|技術情報|お知らせ|会社案内|お問い合わせ|サイトマップ

Copyright © 2008-2010 SEIKA CORPORATION , ALL RIGHT RESERVED.